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JF-XS-2000型X荧光测定仪

JF-XS-2000型X荧光测定仪

  • 所属分类:石油、化工分析仪器系列
  • 浏览次数:
  • 发布日期:2021-08-14 03:26:48
  • 产品概述
  • 性能特点
  • 技术参数

JF-XS-2000型X荧光测定仪根据能量色散X射线荧光分析法原理设计 ,分析精度高、检测速度快、范围广 ,分析过程中样品无损、 无高温、 无需使用化学试剂、 隋性气体操作 , 不产生二次污染。产品符合GB/T 17040、 GB/T 17606-2009、 SH/T 0742-2004等标准 , 广泛应用于测定 原油、 溜分油、 石油气石油化工产品食物等中总硫含量。

● 仪器运行于Windows操作平台,人机对话,操作便捷。

● 样品分析中不接触、不破坏、无需转化、无需高温操作, 无需化学试剂,无需消耗惰性气   体。高浓度样品无需稀释,仪器可直接检测,不会对仪器检测系统造成任何污染。

● 检测范围广:石油和各种石油产品中硫含量的测定。

● 测量速度快:最短只需30~60秒即可准确测定硫含量。

● 专用样品杯:采用一次性专用样品杯,造价低,可避免样品交叉污染; 样品制作快捷方便,不易泄漏;采用单面膜样品杯,可在样品杯背面记录样品浓度、号码、日期等。

● 标准样品消耗量少:每次只需4~10亳升,大大减少了标准样品的消耗量。

● 仪器校正简便:放入校正专用标准样品,可快速仪器进行校正。

● 具有自动增益修正:当X光管长期使用,能量下降时,仪器会自动调整相应算法保障测量精度,这实际也延长了X光管寿命。

● 自动选取标准曲线:仪器可存贮任意多条标准曲线,用户可选择最适合的曲线,如无选择,仪器可以自动选一条与被测样品最为接近的曲线,如果被测样品超出所有曲线检量点范围,仪器会用“外插法”测量。

● 污染保护:仪器设计LED光学全反射成像技术,查看(判断)液样溢出现象,可避免样品盒漏液而误入检测舱,污染损坏仪器;仪器样品检测舱增设了防溢出

● 保护装置:防止检测过程中样品的泄漏。

● 安全防护:仪器设有严密的防X射线泄漏措施,防尘、防腐装置。


● 分析量程:0.001~99.9%。

● 分析精度:样品浓度100ppm时,<±15ppm

样品浓度1000ppm时,<±5%

样品浓度1%时,<±1%

● 检出下限:15ppm 

● 测量时间:100s、300s、自动、手动设定(5~10000s、每步1s自由选择)。

● 样品消耗量:4~10mL

● 外部输出:USB2.0

● 仪器成套性:主机(信号及数据采集)、样品杯、X射线穿透膜、专用压膜器、笔记本电脑(含软件)、激光打印机等。


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